Optická diagnostika

Proč se zabývat optickou diagnostikou? Využíváme ji pro charakterizaci optických materiálů a optických vláken, tenkých a plazmonických vrstev, které nacházejí široké uplatnění v mnoha technických aplikacích, např. v senzorice a plazmonice, zvláště s vazbou na životní prostředí a biomedicínu. Speciální optická vlákna se uplatňují v senzorice, mikrostrukturní optická vlákna jsou vhodná pro širokospektrální zdroje superkontinua. Optické senzory mají všestranné využití.

V rámci optické diagnostiky se zabýváme oblastmi:

CHARAKTERIZACE OPTICKÝCH VLÁKEN A MATERIÁLŮ

  • chromatická disperze s využitím spektrální interferometrie pro
    1. – jednovidová, popř. polarizaci zachovávající vlákna.
  • disperze fázového dvojlomu s využitím spektrální interferometrie pro
    1. – optická vlákna zachovávajíci polarizaci.
  • disperze skupinového dvojlomu s využitím spektrální interferometrie pro
    1. – optická vlákna zachovávajíci polarizaci a dvojlomné krystaly.

CHARAKTERIZACE TENKÝCH A PLAZMONICKÝCH VRSTEV

  • tloušťky a fázové funkce tenkých vrstev s využitím
    1. – spektrální interferometrie,
    2. – spektrální reflektometrie,
  • dielektrické funkce plazmonických vrstev s využitím
    1. – spektrální interferometrie,
    2. – spektrální polarimetrie.

PLAZMONIKA

  • povrchová plazmonové rezonance (SPR),
  • SPR senzory s fázovou detekcí (Kretschmannovo uspořádání),
  • vláknové SPR senzory.

SENZORIKA

  • optické vláknové senzory teploty a posunutí,
  • optické senzory posunutí.

Pracovní skupina OD
Pracovní skupina Optické diagnostiky

Spolupráce
  • Ústav přístrojové techniky AVČR, v.v.i., Brno
  • Žilinská univerzita
  • Vratislavská polytechnika
  • Univerzita Marie Curie-Sklodowské v Lublinu
  • Varšavská vojenská polytechnika
Aktuální projekty
  • Projekt studentské grantové soutěže SP 2019/26 Charakterizace materiálů z hlediska jejich optických, magnetických a mechanických vlastností a jejich interakce se zářením, 2019
  • CZ.02.1.01/0.0/0.0/17_048/0007399 Nové kompozitní materiály pro environmentální aplikace, 2018-2021.

CHARAKTERIZACE OPTICKÝCH VLÁKEN A MATERIÁLŮ, TENKÝCH A PLAZMONICKÝCH VRSTEV

Spektrální interferometrie

Průchodem polychromatického záření Machovým-Zehnderovým interferometrem s testovaným optickým vláknem v jeho jednom rameni se zvýrazní interference na určité vlnové délce, čehož se využívá k určení chromatické disperze vlákna.

Spektrální interferometrie
Spektrální interferometrie

Polychromatické záření (450 až 2400 nm) ze zdroje superkontinua ZS (Fianium) prochází jednovidovým vláknem (JVV) do kolimátoru (K) a budí Machův-Zehnderův interferometr s měřeným optickým vláknem (MOV).

Spektrální analyzátor
Spektrální analyzátor

Spektrální signál
Spektrální signál

Chromatická disperze
Chromatická disperze

Pomocí optického spektrálního analyzátoru (Yokogawa) lze zaznamenat spektrum, jehož vyhodnocením se získá chromatická disperze MOV v širokém spektrálním oboru.

Vláknová refraktometrie

Za určitých podmínek se ve zlaté vrstvě na jádře optického vlákna vybudí tzv. povrchový plazmon, který se projeví poklesem výkonu na určité vlnové délce v odraženém směru, čehož se využívá k určení indexu lomu látky obklopující tuto zlatou vrstvu.

Vláknová refraktometrie
Vláknová refraktometrie

Světlo z halogenové žárovky je navázáno do vláknového děliče, a z něj do optického vlákna s vrstvou zlata. Vybuzení povrchového plazmonu se projeví minimem ve zpětné odrazivosti, které je zaznamenáno spektrometrem. Identifikace kapaliny se provádí ponořením optického vlákna do kapaliny a určením minima odrazivosti.

Refraktometr (Anton Paar)
Refraktometr (Anton Paar)

Reflexní spektrum
Reflexní spektrum

Index lomu studované kapaliny
Index lomu studované kapaliny

Pomocí refraktometru (Anton Paar) lze měřit index lomu studované kapaliny a sledovat reflexní spektrum. Vlnová délka minima v tomto spektru se mění podle indexu lomu.

Spektrální polarimetrie

Pro charakterizaci tenkých vrstev kovu, které slouží k vybuzení povrchového plazmonu, lze využít podmínek jejich vybuzení na vzduchu. Vychází se z faktu, že fázové změny vykazují rezonanci (SPR) a lze je měřit s použitím interferometrické sestavy pro různé úhly dopadu optické vlny na vrstvu kovu. Z nich se získá dielektrická funkce kovu.

Experimentální sestava
Experimentální sestava

Záření ze zdroje bílého světla (ZBS) prochází kolimátorem (K), polarizátorem (P) a dvojlomnýn krystalem (DK), a dopadá na systém tenkých vrstev se zlatem. Odražené světlo prochází analyzátorem a je registrováno spektrometrem. Ve spektrálních interferencních proužcích je obsažena fázová změna způsobená SPR.

Experimentální sestava
Experimentální sestava

Spektrální závislost
Spektrální závislost

Dielektrická funkce
Dielektrická funkce

Experimentální sestava. Spektrální závislosti fázového posuvu pro vrstvu zlata na substrátu ze skla SF10, změřené pro různé úhly dopadu. Dielektrická funkce zlata.

PLAZMONIKA A SENZORIKA

Plazmonika

Dopadá-li na tenkou vrstvu kovu p-polarizovaná optická vlna, lze za jistých podmínek zajistit vybuzení povrchového plazmonu, který je citlivý na index lomu prostředí, se kterým je kov v kontaktu. Vybuzení plazmonu se projeví rezonancí (SPR), která se promítne do změny fáze odražené vlny.

Experimentální sestava
Experimentální sestava

Záření ze zdroje bílého světla (ZBS) prochází kolimční čočkou (KČ), polarizátorem (P) a dvojlomnýn krystalem (DK), a dopadá na vrstvy se zlatem. V odraženém směru registrujeme spektrální interferogram zahrnující změnu fáze díky SPR.


Příklady interferogramů (včetně efektu SPR) a vyhodnocené závislosti.


Příklady interferogramů (včetně efektu SPR) a vyhodnocené závislosti.

Vláknové senzory

Optická vlákna jsou velmi citlivá na vnější vlivy (např. teplota, tlak, atd.). Příkladem mů že sloužit polarizaci zachovávající vlákno, které lze využít jako senzor teploty. Změny teploty se promítnou do posuvu interferenčních proužků (vznikají interferencí dvou polarizačních vidů vlákna), které rozlišíme spektrometrem.

Experimentální sestava
Experimentální sestava

Záření ze zdroje bílého světla (ZBS) prochází kolimační čočkou (KČ), polarizátorem (P) a dvojlomnýn krystalem (DK), a budí dvojlomné vlákno. Část tohoto vlákna je pod vlivem měnicí se teploty, která se promítá do posuvu spektrálních interferenčních proužků registrovaných spektrometrem.


Příklady interferogramů pro dvě různé teploty a vyhodnocené závislosti.


Příklady interferogramů pro dvě různé teploty a vyhodnocené závislosti.

Optické senzory

Použitím piezoposuvu u jednoho ze zrcadel Michelsonova interferometru zajistíme dráhové změny na úrovni nanometrů, což lze díky spektrální interferenci detekovat. K určení posunutí s ještě větším rozlišením lze využít interferometrické sestavy podle obrázku.

Experimentální sestava
Experimentální sestava

Záření ze zdroje bílého světla (ZBS) prochází kolimační čočkou (KČ), polarizátorem (P), dvojlomnýn krystalem (DK), polarizátorem (P) a budí Michelsonů v interferometr, jehož jedno zrcadlo je na piezoposuvu (PZT). Registrujeme posuv spektrálních interferenčních proužků.


Příklady interferogramů pro dvě polohy zrcadla a vyhodnocené závislosti.


Příklady interferogramů pro dvě polohy zrcadla a vyhodnocené závislosti.



Kontakt na vedoucího pracovní skupiny: doc.RNDr. Petr Hlubina CSc., petr.hlubina(zavináč)vsb.cz